<track id="xzn3j"></track>
<track id="xzn3j"><big id="xzn3j"></big></track>

    <delect id="xzn3j"><sub id="xzn3j"><ol id="xzn3j"></ol></sub></delect><dl id="xzn3j"><progress id="xzn3j"><form id="xzn3j"></form></progress></dl>

        <th id="xzn3j"></th>

        <listing id="xzn3j"><dfn id="xzn3j"></dfn></listing>

              <pre id="xzn3j"></pre>

                  24小時在線咨詢
                  點擊這里給我發消息 宋先生
                  點擊這里給我發消息 鄭先生
                  Admesy色度計
                  OceanOptics光纖光譜儀
                  QSpec科思凱系列
                  采樣附件
                  光源
                  光纖
                  美國perkinelmer產品
                  P-POptica光譜儀
                  臺灣益博思電子防潮箱
                  * 拉曼系統R-3000型光譜儀
                  * MiniSpark-3000手持拉曼分析儀
                  * Ventana 785拉曼光譜儀
                  * LIFS-405激光誘導熒光光譜儀
                  * PL-3000光致發光測量儀
                  * 顯微透過率測量儀(手機面板IR孔測量儀)
                  * TMS透過率測量儀(ir透過率測量儀)
                  * 衰減全反射探頭
                  * Planum-3000平面光學元件光譜分析儀
                  * LIBS-激光誘導擊穿光譜系統(MX2500+)

                  QSpec科思凱系列>> 透過反射率測試儀>>TMS透過率測量儀(ir透過率測量儀)  

                  TMS透過率測量儀(ir透過率測量儀)

                   

                   

                  TMS是一套全波長的絕對透過率測量儀(ir透過率測量儀),能快速準確地測量各類平面、球面、非球面等光學元件的相/絕對透射率,可用于實時顯示單、多點波長透過率數據及指定波段平均透過率數據。適用于手機蓋板IR孔、棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面、球面非球面光學元件及組合鏡頭等的檢測。紫外透過率測量儀專為檢測樣品紫外波段透過率設計。

                   

                  紫外透過率測量儀

                   

                  顯微透過率測量儀基于普通透過率測量儀的測試原理,增加顯微光路和成像CCD對測試區域進行精確定位,用小尺寸光斑(0.3mm)測試樣品微小區域的相/絕對透射率。除了可對玻璃、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學元件的透過率檢測之外,特別適用于手機蓋板IR孔、菜單鍵、返回鍵等微小區域的透過率檢測。

                   

                  TMS透過率測量儀(ir透過率測量儀)-技術參數

                  型號

                  TMSI型)

                  TMS型)

                  TMSIII型)

                  探測器

                  Sony線形CCD 陣列

                  Hamamatsu背照2D-CCD

                  Hamamatsu2D-CCD

                  檢測范圍

                  380-1000nm

                  (紫外:200-850nm)

                  380-1100nm

                  (紫外:200-1100nm)

                  360-1100nm

                  (紫外:225-1000nm)

                  信噪比(全信號)

                  2501

                  450:1

                  10001

                  相對檢測誤差

                  0.6%410-900nm

                  0.4%410-1000nm

                  0.2%410-1000nm

                  檢出限

                  0.1%

                  0.05%

                  0.01%

                  單次測量時間

                  1s

                  CCD制冷

                  未制冷

                  未制冷

                  -20

                  樣品尺寸

                  ≥ Φ1.5mm (顯微:0.8nm)

                  光斑

                  可調,≥ Φ0.6mm(顯微≥ Φ0.3mm

                  操作系統/接口

                  Windows XP, Windows Vista/ USB2.0

                  電源/功率

                  220V-50HZ /6W

                   

                  TMS透過率測量儀-獨特的軟件設計

                  l        智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度,實時顯示測量樣品關注波長位置的透/反射率數據,自動調整顯示坐標范圍,高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析。

                  l        譜圖管理:可同時記錄多達20個樣品譜圖,批量保存測量結果,記錄譜圖測試積分時間,能對譜圖進行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作,最大程度地方便了譜圖的管理和分析。

                  l        自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案,同時設置判定標準,使檢測更快速,結果更準確。

                  l        譜圖數據處理功能:備有豐富的光學元件數據庫,可根據數據庫已存標準數據對比分析結果,用戶可自行對數據庫進行添加、修改和刪除,還可將測量數據導入Excel有利于進一步對譜圖進行分析和研究。

                  l        CIE顏色測量功能:可以計算樣品各種CIE顏色參數, x,y,L,a,b,飽和度,主波長等。

                  l        數據報告打印功能:可快速批量打印樣品測量數據及譜圖,自定義測量報告出具單位名稱。

                  相關產品:
                  TMS透過率測量儀(ir透過率測量儀)
                  Planum-3000平面光學元件光譜分析儀
                  顯微透過率測量儀(手機面板IR孔測量儀)
                  Sphere-3000光學元件反射率測量儀
                  OTM 肉厚測量儀(非接觸式鏡片厚度測量儀)
                  版權所有 2007 廣州標旗光電科技發展股份有限公司 www.jedikatie.com
                  地址:廣州市蘿崗區廣州科學城彩頻路7號C座701
                  電話:(020)38319602 38319620 傳真:(020)38319595 ICP備案:粵ICP備16049535號
                  澳门永久AV免费网站,久天啪天天久久99久,中文字幕亚洲欧美日韩2o19,免费大片av人片日本伦