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                  QSpec科思凱系列
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                  QSpec科思凱系列>> 透過反射率測試儀>>Planum-3000平面光學元件光譜分析儀  

                  Planum-3000平面光學元件光譜分析儀

                  全自動透光率/反射率分析儀

                  型號:Planum-3000

                  用途:用于各類平面光學元件的反射、透射光譜快速測量?蛇M行多角度相對/絕對

                  反射率、透過率測量,偏振光測量,膜性測量。

                  Planum-3000平面光學元件光譜分析儀-適宜測量范圍:棱鏡、平行平板、鏡面等平面光學性能。

                   

                                           操作軟件界面

                   

                  平面光學元件光譜分析儀的技術參數:

                   

                  型號 Planum-3000(Ⅰ型) Planum-3000(Ⅲ型)
                  探測器 Sony線形CCD 陣列 Hamamatsu背照式2D-CCD
                  檢測范圍 380-1000nm 360-1100nm
                  波長分辨率 1nm 1nm
                  信噪比(全信號) 250:1 1000:1
                  相對檢測誤差 ﹤1%400-800nm 0.2%400-800nm
                  重復定位精度 0.005°
                  透射測量角度 0-80°(小樣品0-50°)
                  反射測量角度 10-80°(可擴展到5°)
                  樣品尺寸 Φ5mm
                  單次測量時間 <1ms
                  S/P光測量 支持
                  其他 可自定義打印報告格式,開放式光學材料數據庫

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